Ангелина Майская

Физики научились измерять тепловой коэффициент расширения двухмерных кристаллов

Физики научились измерять тепловой коэффициент расширения двухмерных кристаллов
Физики научились измерять тепловой коэффициент расширения двухмерных и многослойных кристаллов, которые используются в производстве нанометровых технологий. Выяснилось, что чем меньше у материала слоев, тем сильнее он нагревается. Новая методика поможет создавать более качественные устройства.
Тепловые свойства кристаллов важны для энергоэффективности и целостности структуры нанометровых гаджетов. Предыдущие методы измерения теплового коэффициента расширения (ТКР) имели немалые погрешности, а потому их использование не давало точного результата. Научные сотрудники Иллинойского университета нашли выход из ситуации. Для этого они использовали электронную микроскопию и спектроскопию. Сначала эксперты просвечивали кристаллы микроскопом, а затем анализировали полученные данные способом разложения изображения на спектры. В результате удалось высчитать значение сдвига пика плазмона, положение которого напрямую зависит от температуры материала.

В ходе научной работы физики измерили температуру и ТКР графена и сульфидов и селенидов металлов молибдена и вольфрама, входящих в состав одно-, двух-, трех- и многослойных кристаллов. Подтвердились предположения, что толщина материала имеет значение - с ее увеличением КТР стремительно падает.

Подписывайтесь:




Добавить комментарий